| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Описание
Данная система предназначена для электрооптической характеризации полупроводниковых кристаллов. FiconTEC TL2000 - полностью автоматизированная система тестирования и контроля для несмонтированных лазерных диодов, отдельных кристаллов и кристаллов на подложках. Основные возможности: Определение электрооптических характеристик несмонтированных лазерных диодов. Определение характеристик полупроводникового лазера VCSEL. Характеризация отдельных кристаллов. Тестирование фотодиодов. Тестирование кристаллов на подложке. Полное тестирование высокомощных лазерных диодов.
