Система высококачественной ионной обработки SEMPrep 2 model SC-2000 (Technoorg Linda)
14 сентября 2018
621
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | США |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначена для высококачественной ионной обработки выбранного участка поверхности образца с целью последующего исследования на сканирующем электронном микроскопе (СЭМ). Подготовки поперечных сечений методом наклонного среза с помощью высокоэнергичной ионной пушки; точной юстировки области травления; финальной полировка и очистки поверхности ионной пушкой низкой энергии; подготовки неповрежденной поверхности для EBSD исследований.