Система пробоподготовки для просвечивающих электронных микроскопов Gentle Mill model IV8 (Technoorg Linda)
14 сентября 2018
478
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | США |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
Описание
Предназначена для выполнения финальной полировки, очистки и улучшению качества образцов, которые уже прошли предварительную высокоэнергетическую ионную обработку, например с помощью FIB. Надежный и быстрый метод для очистки и постобработки образцов в применении к TEM и FIB исследованиям. Полностью автоматические процедуры по предустановленным рецептам. Применение для промышленных задач. Специальный держатель образцов для 3D исследований.