Электронный сканирующий микроскоп JSM 7800F (Jeol)
14 сентября 2018
369
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 9 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для проведения цитологического исследования биологических тканей и других материалов при больших увеличениях. Используются стандартные методики приятные в мировой практике для проведения электронно-микроскопических исследований.