| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Корея |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначена для прецизионного анализа подложек и полупроводниковых пластин размером до 100 мм. Данные станции подходят для измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характериатик. Эргономичный дизайн позволяет быстро позиционировать образец в ручную. Тестирование на образцах (пластинах) до 100 мм (столик 100мм). Устойчивая плита, допускающая установку микропозиционеров. Размер плиты 400 мм (ш) X 300мм (г) X 20 мм (в). Микроскоп с увеличенем 90х.