Сканирующий электронный микроскоп Versa 3D DualBeam (FEI)
14 сентября 2018
500
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 8 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Обеспечивает качественный и количественный микрорентгеноспектральный анализ (EDS) в точке, распределение элементов по линии и на площади.Двулучевая система c интегрированными электронным и ионным пучками (FIB/SEM) позволяет: получать высококачественные изображения по композиционному и топографическому контрасту; изготавливать поперечные сечения для исследования подповерхностных слоев; травить и напылять по шаблону.