Сканирующий электронный микроскоп Phenom proX (FEI)

Самый быстрый, эффективный и универсальный настольный сканирующий электронный микроскоп с интегрированной системой ЭДС микроанализа. Основные технические особенности электронных микроскопов Phenom ProX: Система ЭДС интегрирована в модуль получения изображений; Определение элементов от углерода до америция; Возможность определения элементного состава в точке, по линии и по площади в реальном времени; Увеличение до 130 000x достигается без применения цифрового зума; Разрешение до 10нм; Ускоряющее напряжение 5, 10, 15 кВ; Высокочувствительный детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы); Цветная оптическая цифровая навигационная камера; Управление посредством сенсорного экрана и/или специальной поворотно-нажимной кнопки; Мощный термоэлектронный источник CeB6 (гексаборид церия) с увеличенным временем жизни (~1500 часов); Моторизованный предметный столик; Высокая скорость работы - 30 секунд с момента загрузки образца до получения изображения с высоким разрешением; Возможность работы как с токопроводящими, так и с нетокопроводящими образцами без необходимости в дополнительной подготовке (напыление и т.п.); Программный пакет автоматизированных решений Pro Suite.