Сканирующий электронный микроскоп Phenom Pure (FEI)

Позволяет получать изображения с высоким разрешением и увеличением до 30 000х. Он является научным электронным микроскопом с возможностью получения трехмерных изображений. Увеличение до 30 000x; Разрешение 30 нм; Ускоряющее напряжение 5 кВ; Высокочувствительный детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы); Оптическая цифровая навигационная камера; Управление посредством сенсорного экрана и/или специальной поворотно-нажимной кнопки; Мощный термоэлектронный источник CeB6 (гексаборид церия) с увеличенным временем жизни (~1500 часов); Моторизованный предметный столик; Высокая скорость работы - 30 секунд с момента загрузки образца до получения изображения с высоким разрешением; Возможность работы как с токопроводящими, так и с нетокопроводящими образцами без необходимости в дополнительной подготовке (напыление и т.п.)