Двухлучевой трехмерный ионный микроскоп Helios NanoLab 460 HP (FEI)
14 сентября 2018
436
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Описание
Позволяет выйти на новый уровень получения двух- и трехмерных изображений изучаемых объектов и их анализа, создания нанопрототипов и подготовки образцов. Технология Elstar™ FESEM обеспечивает наилучшую детализацию в нанометровом диапазоне. В двухлучевой системе также реализована новейшая разработка компании FEI - ионная колонна Tomahawk™ FIB. Эффективность колонны Tomahawk в условиях низкого напряжения достаточно велика для того, чтобы получать
тонкие образцы высочайшего качества для исследования на просвечивающем электронном микроскопе или атомно-силовом микроскопе. В устройстве предусмотрена тройная система детектирования внутри колонны и режим
иммерсии, которые могут использоваться одновременно для формирования изображений во вторичных и обратно отражённых электронах.
тонкие образцы высочайшего качества для исследования на просвечивающем электронном микроскопе или атомно-силовом микроскопе. В устройстве предусмотрена тройная система детектирования внутри колонны и режим
иммерсии, которые могут использоваться одновременно для формирования изображений во вторичных и обратно отражённых электронах.