Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI-II (Quantera)
14 сентября 2018
535
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 25 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Обеспечивает высокую чувствительность и необходимый инструментарий для применения РФС метода практически ко всему спектру существующих образцов, а также в анализе отказов. Среди его возможностей − высокопроизводительная спектроскопия микрообласти по всем элементам кроме H и He, профилирование ионной пушкой, картрирование, автоматизированный анализ диэлектриков и др. Минимальная область сканирования 9 мкм. Полная автоматизация системы упрощает эксплуатацию и повышает воспроизводимость результатов измерений. Большой размер столика образцов позволяет анализировать действительно крупные образцы из "реального мира" автоматически или сразу несколько мелких образцов. Принцип работы: В методе РФС в качестве первичного источника возбуждения используется мягкое рентгеновское излучение, а наряду с Оже-электронами регистрируются фотоэлектроны, непосредственно вырываемые рентгеновскими квантами с внутренних оболочек атомов. Поскольку энергетическое положение фотоэлектронных линий очень чувствительно к химическому окружению атомов, составляющих исследуемое вещество, данный метод широко применяется для исследования химического состава.
