Прибор для бесконтактного неразрушающего контроля параметров поверхности и многослойных структур MicroProf® 200 (FRT GmbH)

14 сентября 2018
531
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.

Описание

Прибор предназначен для определения параметров любых поверхностей, в том числе полупроводниковых неструктурированных и структурированных пластин; измерения толщины слоя и параметров многослойных структур; определения топографии поверхности, высоты ступеньки, толщины пластины, вариации толщины, прогиба, деформации, шероховатости и волнистости; распознования дефектов и полостей и др.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Лазера излучатель изделия для модернизации Япония Аренда, Заказ исследования Оренбург
Комплект оборудования для экспериментов с импульсным лазерным излучением высокой РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Комплект № 2 аппаратуры для динамической голографии и флеш-фотолиза РФ Аренда, Заказ исследования Оренбург
Станция для изучения химии металло-органических соединений под действием излучения ЛСЭ РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Комплекс метрологический для измерений характеристик солнечных элементов МК-СЭ (ВНИИОФИ) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Лазерный комплекс для прецизионной калибровки временной шкалы хронографов (ВНИИОФИ) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Устройство для определения коэффициента излучения РФ Аренда, Заказ исследования Ухта
Установка для испытания кабелей на огнеостойкость РФ Аренда, Заказ исследования Пермь
Оборудование для анализа структуктуры многофазных потоков методом фазовой доплеровской анемометрии РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Комплект №2 аппаратуры для импульсной голографии и флеш-фотолиза Белорусь (РБ) Аренда, Заказ исследования Оренбург