Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (ПРОТОН-МИЭТ)
14 сентября 2018
420
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 7 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0,1нм до 30мкм). Микроскоп применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.
Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия). Разрешение микроскопа: 0,1 А в режиме STM, до 0,1-20 А в AFM и доп. режимах (зависит от типа зонда). Поле кадров: 15x15x2,5мкм и 2,5x2,5x0,5мкм. Предел допускаемой погрешности измерений линейных размеров по осям X,Y и Z составляет 10нм ±10% измеряемого размера.
Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия). Разрешение микроскопа: 0,1 А в режиме STM, до 0,1-20 А в AFM и доп. режимах (зависит от типа зонда). Поле кадров: 15x15x2,5мкм и 2,5x2,5x0,5мкм. Предел допускаемой погрешности измерений линейных размеров по осям X,Y и Z составляет 10нм ±10% измеряемого размера.