Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп C2 Eclipse Ti-E (Nikon)
14 сентября 2018
372
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Обеспечивает высокую контрастность исследуемых материалов. Используемые линии возбуждения: 405, 488, 561 нм. Микроскоп также оборудован системой для микроманипуляции/микроинъекции и системой автофокусировки PerfectFocus.