Атомно-силовой микроскоп EG-1230 PC SPM (NanoScan Technologies)
14 сентября 2018
319
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Оренбургская область, Оренбург |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. Используется для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.