Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп NT-206 (Микротестмашины)
14 сентября 2018
487
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Белорусь (РБ) |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 4 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Представляет собой атомно-силовой микроскоп в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и субмикрорельефа поверхностей, объектов микро- и нанометрового размерного диапазона, их микромеханических и других свойств с высоким разрешением. Размер матрицы сканирования до 512x512 точек. Латеральное разрешение (плоскость XY): 1–5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов). Вертикальное разрешение (направление Z): 0,1–0,5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов).