Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode NanoScope III (Veeco)
14 сентября 2018
392
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 6 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования физических свойств поверхности. Жесткая, осесимметричная конструкция и малошумящая электроника обеспечивают крайне низкий уровень шумов: по вертикали (Z) не превышает 0.3 Ангстрем (RMS) на воздухе и менее 0.5 Ангстрем (RMS) в жидкости. Открытая архитектура микроскопа позволяет быстро менять сканирующие головки, сканеры и держатели кантилеверов, подавать на образец сигналы от внешних источников, устанавливать дополнительные модули. Области применения микроскопа: материаловедение, микробиология, нанотехнологии. Предусмотрено несколько типов сменных сканеров для работы в разных диапазонах и режимах. Замена сканера занимает не более одной–двух минут.