| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Амурская область, Благовещенск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 7 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Обеспечивает электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т.д. Режимы высокого (HV-mode) и низкого (LV-mode) вакуума. Детекторы: вторичных (SEI) и обратнорассеянных электронов (BEI). В режиме HV-mode. Изображение: SEI, BEI. Разрешение: 3 нм (30 кВ, WD 8 мм, SEI); 8 нм (3.0 кВ, WD 6 мм, SEI); 15 нм (1.0 кВ, WD 6 мм, SEI). Увеличение: от 5 (WD 48 мм) до 300 000 (пошаговое).