Растровый электронный микроскоп LEO-1420 с рентгеноспектральным микроанализатором RONTEC (Oxford Instrument)
14 сентября 2018
468
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Амурская область, Благовещенск |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Обеспечивает электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т.д. Режимы высокого вакуума. Детекторы: вторичных (SEI) и обратно рассеянных электронов (BEI). Изображение: SEI, BEI. Разрешение: 3.5 нм. Увеличение: 15–300 000 (пошаговое). Ускоряющее напряжение от 200 V до 39 kV: ток на образце 1 pA–1 mA.