Растровый электронный микроскоп JSM-35C с рентгеноспектральным микроанализатором SDS-35 (JEOL)
14 сентября 2018
378
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Амурская область, Благовещенск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 8 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Обеспечивает электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т.д. Детекторы: вторичных (SEI) и обратнорассеянных электронов (BEI), поглощенного тока.
Изображение: SEI, BEI, AEI. Разрешение: 6 нм. Увеличение: 15–180 000 (пошаговое). Ускоряющее напряжение от 200 V до 39 kV: ток на образце 1 pA–1 mA.
Изображение: SEI, BEI, AEI. Разрешение: 6 нм. Увеличение: 15–180 000 (пошаговое). Ускоряющее напряжение от 200 V до 39 kV: ток на образце 1 pA–1 mA.