Сканирующий электронный микроскоп Nova NanoSEM 450 (FEI) с системой энергодисперсионного микроанализа EDAX
14 сентября 2018
389
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе. Отличается ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Оснащен энергодисперсионным (EDS), волнодисперсионным спектрометрами (WDS), а также EBSD-системой, что позволяют проводить качественный, количественный, фазовый и структурный анализ материала. Для выполнения функции электронно-лучевой литографии микроскоп может оснащаться 16-ти битовым генератором образа и бланкером луча.