Атомно-силовой микроскоп Solver Pro (НТ-МДТ)
14 сентября 2018
694
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 6 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования морфологии, локальных физико-химических свойств и механических характеристик поверхности. Шероховатость поверхности не должна превышать 3 мкм. Доступное планарное разрешение составляет 10 нм при точности определения высоты до 5 нм. Максимальный размер скана составляет 50 × 50 мкм. Микроскоп работает в контактном и полуконтактном режиме. Реализованы следующие методики измерения: электростатическая микроскопия, измерение сопротивления растеканию тока, измерение локальной поверхностной жесткости, силовая нанолитография, анодная нанолитография, магнитно-силовая микроскопия.