Сканирующий электронный микроскоп JSM 6510LV (JEOL)
14 сентября 2018
438
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет проводить исследования образцов практически любых типов, в широких диапазонах ускоряющих напряжений и токов пучка, в режиме высокого или низкого вакуума. Камера образцов микроскопа обладает солидным количеством портов и позволяет дооснастить РЭМ множеством разнообразных приставок (спектрометрами с дисперсией по энергиям и по длинам волн, системой дифракции отраженных электронов, системой катодолюминесценции, рамановским спектрометром) для решения широкого класса исследовательских задач.