Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (Протон)

14 сентября 2018
519
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства РФ
Год производства 2015
Предоставляемое количество 3
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 6 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для исследования поверхности вещества на атомарном уровне. Размер поля сканирования: до 60×60 мкм по латерали; Разрешение: атомарное (с использованием встроенной виброподвески); Температурный дрейф по X и Y: не более 1 нм/гр; Частота основного механического резонанса: 8 кГц.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Спектральный оптический когерентный микроскоп Michelson Diagnostics Великобритания Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Микроскоп для исследования поверхности оптическими методами ЛВ-31 РФ Аренда, Заказ исследования Пенза
Интерференционный микроскоп-нанопрофилометр МНП РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Сканирующий приемник - Winradio WR-G31DC "EXCALIBUR", 101042000265 РФ Аренда, Заказ исследования Липецк
Сканирующий спектрофлюориметр РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Спектрофлюориметр сканирующий США Аренда, Заказ исследования Архангельск
Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian) Австралия Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Сканирующий диагностический набор РФ Аренда, Заказ исследования Чита
Сканирующий спектрофлуориметр Элюмин-2М РФ Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Сканирующий нанотвердомер СуперНаноСкан (тм) РФ Аренда, Заказ исследования Москва