Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom proX
14 сентября 2018
430
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Нидерланды |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Электронный микроскоп предназначен для оценки микроструктуры металла (стали), металла сварных соединений при больших увеличениях (до х45 000), оценки микромеханизма разрушения металла на поверхности изломов после испытаний на динамический удар.