Рентгеновский аналитический зондовый микроскоп PAM 30-μ (Научные приборы)
14 сентября 2018
562
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования объектов методами оптической микроскопии, рентгенографии и локального ренгено-флуоресцентного элементного микроанализа с возможностью элементного картирования. Области применения: Рентгенофлуоресцентный микроанализ с элементным картированием идентификационной карты. Рентгено-флуоресцентный микроанализ с элементным картированием печатной платы. Рентгено-флуоресцентный микроанализ скрытых объектов. Рентгено-флуоресцентный микроанализ скрытых текстов.