Описание
Предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/CV), высокочастотных (RF) сигналов и сигналов большой мощности (High Power). Станция имеет широкие возможности применения для таких нужд, как снятие характеристик и моделирование устройств, оценка надёжности кристаллов на подложке, анализ дефектов технологии ИС, МЭМС и измерения высокой мощности. Особенности: эргономичный дизайн позволяет быстро позиционировать образец при помощи ручного пантографа; устойчивая плита, допускающая установку до 10 DC или 4 RF-позиционеров; воспроизводимый дизайн подъёмника плиты с 3 отдельными режимами: для загрузки образца, контакта с образцом и промежуточный; антивибрационная платформа в комплекте; русскоязычное калибровочное ПО qAlibria; возможность использования дополнительного навешиваемого на микроскоп оборудования при помощи жёсткого моста для микроскопа.
