Оптический отражающий микроскоп BX51M (Olympus)
14 сентября 2018
447
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 3 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для визуального контроля качества выполнения технологических операций. Технические характеристики: максимальная высота образца – 65 мм без оправы; ход фокуса – 25 мм с минимальным шагом 1 мкм; максимальное разрешение – до 300 нм; встроенная камера для съемки изображений; съемка и просмотр поверхности в светлопольном и темнопольном режимах получения изображения.