Растровый электронный микроскоп JSM-6610LA (JEOL) c совмещенным энергодисперсионным спектрометром X-MAX
14 сентября 2018
361
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для изучения микроструктуры вещества. Пространственное разрешение 3 нм. Ускоряющее напряжение от 0,3кВ до 30 кВ. Диапазон увеличений от х5 до х300 000. Максимальный размер образца диаметр до 200 мм, высота до 80 мм. Виды контраста вторичные электроны: топографический контраст; отражённые электроны: композиционный, топографический, теневой контрасты. Катод W. Столик образцов эвцентрический моторизация до 5 осей с компьютерным управлением диапазон перемещений: Х – 125 мм, Y – 100 мм, Z – от 5 до 80 мм. наклон: от -10 до 90 градусов, вращение 360 градусов.