Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100 (Jeol) с энергодисперсионным анализатором Inca-250
14 сентября 2018
458
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Омская область, Омск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм. Высокая стабильность пучка. Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка вместе с превосходной электронно-оптической системой позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом). В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24,1, что позволяет производить высокоточный анализ и быстрый набор данных микроанализа. Основная компьютерная система позволяет осуществлять управление и сбор данных в режиме ПРЭМ, ЭДС-микроанализа и СПЭ, сохраняя при этом простоту управления всем аналитическим комплексом. Полученную информацию также можно передать по локальной сети на другие персональные компьютеры для дальнейшей ее обработки.