| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Омская область, Омск |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для контроля качества и изучения объектов, содержащих физико-химические особенности (структуру, морфологию, текстуру) в масштабе нескольких микрон. Система отраженного света организована по принципу Келера с галогенным источником света, 100 Вт.
Бинокулярная насадка, фокусировочный механизм, возможность перемещения конденсора и предметного столика. Объектив EC “Epiplan” 100x/0/8HD и микрометр для отраженного света 5 100/100у. Видеокамера высокого разрешения.
Бинокулярная насадка, фокусировочный механизм, возможность перемещения конденсора и предметного столика. Объектив EC “Epiplan” 100x/0/8HD и микрометр для отраженного света 5 100/100у. Видеокамера высокого разрешения.