Атомно-силовой микроскоп Cypher (Asylum Research)

Предназначен для обеспечения максимальной разрешающей способности зондовой микроскопии. Его применение поднимает на качественно новый уровень исследования объектов с нанометровыми характерными размерами. Самый низкий по сравнению с аналогами уровень шума, автоматизированная система настройки лазера, стабильность системы позволят при использовании этого прибора взглянуть на «наномир» другими глазами. Режимы работы: Режим контактной атомно-силовой микроскопии (C‐AFM); Сигналы: высота (по Z зонд‐образец), латеральная сила (LFM); Режим полуконтактной атомно-силовой микроскопии (NC‐AFM); Сигналы: высота (расстояние по Z зонд‐образец), амплитуда/фаза колебаний кантилевера, контроль величин I/Q, латеральная сила (LFM); Режим силовой спектроскопии: Построение графиков силы взаимодействия зонд ‐ образец от расстояния в точке и карт на участке образца в контактном или полуконтактном режимах; Электросиловая микроскопия (EFM): Определение контраста электрических свойств образца, локальная модификация образца под воздействием электрического поля кантилевера; Магнитно‐Cиловая микроскопия (МFM): Определение контраста магнитных свойств образца; Распределение потенциала на поверхности; Режим СТМ (сканирующая туннельная микроскопия); Среда: воздух, жидкость.