Многоцелевой растровый электронный микроскоп с эмиттером Шоттки JSM-7200F (Jeol)

Предназначен для решения широкого спектра задач как в элементном и структурном микроанализе так и в получении качественных изображений с высоким разрешением. Электронная оптическая система использует погружённую в конденсорную линзу термоэмиссионную электронную пушку, позволяющую получать остросфокусированный электронный зонд при высоком токе зонда, что обеспечивает эффективное выполнение элементного анализа путем EDS (энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии), WDS (волнодисперсионной рентгеновской спектрометрии) и EBSD (дифракции отражённых электронов). К тому же, поскольку высокий зондовый ток можно получить также при низком ускоряющем напряжении, JSM-7200F может выполнять поэлементное картирование по поверхности образца с высоким разрешением при использовании EDS и WDS.