Устройство плазменной чистки образцов JIC-410 (JEOL)
14 сентября 2018
215
| Классификация оборудования | — |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначено для очистки держателей ПЭМ от углеводородных загрязнений. Использование тлеющего разряда для плазменной очистки образца в ПЭМ держателе от углеводородных загрязнений. Образцы должны быть смонтированы на стандартных ПЭМ сеточках диаметром 3мм, и установлены в держатель для образцов.