Сканирующий электронный микроскоп Evo 50 (Carl Zeiss) с приставкой для рентгеновского энергодисперсионного микроанализа SDD IXRD systems
14 сентября 2018
490
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для получения изображения поверхности образца с большим разрешением. Характеристики: Увеличение: x50 – x200,000; Разрешение: 2.0 нм (30 КВ, SE изображение); Ускоряющее напряжение: 1-30 кВ; Электронная пушка: W (Вольфрам); Детектор: SE, BSE (во вторичных и обратноотраженных электронах). Особенности: Полностью моторизированный столик, возможность просмотра образцов в геометрии cross-section (под наклоном, определение толщины пленок-покрытий). Большой размер камеры, возможность анализа объектов больших размеров. Приставка для рентгеновского энергодисперсионного микроанализа SDD IXRD systems предназначена для неразрушающего микроанализа (измерения массовых долей элементов в микрообъеме) различных пленок и покрытий.
