Сканирующий растровый микроскоп JSM-6480 LV (Jeol)

Позволяет исследовать рельеф поверхности, неоднородность материала с одновременным определением элементного состава в диапазоне элементов от B – U как качественно, так и количественно, а так же получать качественные фотографии и спектры катодолюминисценции. Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов.
Прибор оснащен дополняющими друг друга аналитическими приставками для комплексного анализа поверхности: спектрометрами с энергетической и волновой дисперсией (EDS) для определения химического состава; детектором обратно рассеянных электронов (EBSD) для исследования микроструктуры и текстуры (построение карт поверхности образца с определением зёренной структуры, анализом спектра разориентировок границ зёрен; построение полюсных фигур).