Сканирующий туннельный микроскоп GPI 300-05 (Сигма Скан)

Предназначен для прецизионного (на атомном уровне) изучения процессов, происходящих на поверхности металлов и полупроводников в условиях сверхвысокого вакуума. Позволяет проводить запись топограмм с атомным разрешением как чистой поверхности, так и адсорбированных слоев. Прибор может быть интегрирован в любую аналитическую или технологическую установку. Открытая архитектура сканера обеспечивает возможность ввода газовых, молекулярных или световых пучков на образец непосредственно в зону туннельного контакта в процессе сканирования. Низкий уровень шумов управляющей электроники и достаточно высокая виброзащищенность. Амплитуда отклонений от заданного расстояния игла-образец не превышает 4 пм. Позиционирование иглы по двум координатам X, Z в диапазоне 10×5 мм.