Описание
Обеспечивает возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты. В данной системе не установлены источники возбуждения или детекторы, несмотря на это можно создавать различные экспериментальные установки, используя окна на передней и правой стенках прибора. Более того, прямой доступ к вводу оптического волокна в ближнепольный зонд обеспечивает большую гибкость при проведении экспериментов с использованием системы микроскопии ближнего поля. Расположение образца контролируется с высочайшей точностью, поэтому наконечник зонда остается на фиксированном расстоянии от поверхности образца, что обеспечивает точные топологические данные о рельефе поверхности образца. Облучая образец с помощью источника "ближнего поля", создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая "дифракционный предел".
