| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Томская область, Томск |
| Страна производства | Япония |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Способен регистрировать спектры в диапазоне длин волн 200 - 900 нм с точностью ±0.3 нм. Установка автоматизированного XYZ-столика позволяет расширить набор анализируемых образцов. Кроссплатформенное программное обеспечение Spectra Manager™ II существенно упрощает и ускоряет процесс получения и обработки данных. Позволяют проводить измерения ширины запрещенной зоны и толщины пленок полупроводников, регистрировать спектры отражения/пропускания, а также оценивать оптические характеристики функциональных кристаллов и проводить анализ цвета микроскопических объектов.