Времяпролетный масс-спектрометр SurfaceSeer (Kore)
14 сентября 2018
500
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Великобритания |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Описание
Предназначен для анализ поверхности методом ВИМС, поверхностной масс-спектрометрии, анализа проводников и диэлектриков, анализа положительных и отрицательных вторичных ионов. Компактный инструмент TOF-SIMS который является мощным прибором для исследования поверхности любых материалов для заказчиков из разных областей промышленности и науки. Используется как «рабочая лошадка» для спектроскопистов для обоих режимов работы: негативном и позитивном, имеет высокое разрешение, более чем 2000 и точность по массе около 5 х 10-3 а.е.м.