Сканирующий электронный микроскоп EVO 50 XVP (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
554
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Красноярский край, Красноярск |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 8 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для получения изображения поверхности образца с большим разрешением. Характеристики: увеличение: x50 – x200,000, разрешение: 2.0 нм (30КВ, SE изображение), ускоряющее напряжение: 1-30 кВ, электронная пушка: W (Вольфрам), детектор: SE, BSE (во вторичных и обратно-отраженных электронах). Особенности: полностью моторизированный столик, возможность просмотра образцов в геометрии cross-section (под наклоном, определение толщины пленок-покрытий). Большой размер камеры, возможность анализа объектов больших размеров. Приставка для рентгеновского энергодисперсионного микроанализа SDD IXRD systems предназначена для неразрушающего микроанализа (измерения массовых долей элементов в микрообъеме) различных пленок и покрытий.