Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390 LV (JEOL) с энергодисперсионным анализатором JED 2300
14 сентября 2018
1000
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Кемеровская область, Кемерово |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 8 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Обеспечивает электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т.д. Ускоряющее напряжение 0,5 – 30 кВ; Разрешение 3 нм (ускоряющее 30 кВ, режим HV, вторичные электроны); Увеличение от 8 до 300 000 крат; Моторизированный предметный столик; Максимальный размер образца 200 мм.