| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Многоцелевой аналитический просвечивающий электронный микроскоп. Благодаря высококачественным электронной пушке с LAB6 катодом и магитным линзам микроскоп имеет разрешение 0,19 нм, таким образом позволяя получать прямые изображения атомной решётки. В микроскопе реализован как режим дифракции в сходящемся пучке, так и сканирующий режим с нанометровым разрешением. Прямое изображение атомной решетки наночастиц оксида титана Основные характеристики ПЭМ JEM-2100. · Предельное разрешение: 0,19 нм · Максимальное ускоряющее напряжение: 200 кВ · Стабильность ускоряющего напряжения ≤ 2*10-6 мин-1 · Стабильность тока объективной линзы ≤ 1*10-6 мин-1 · Фокусное расстояние объективной линзы: 1,9 мм · Сферическая аберрация объективной линзы: - 0,5 мм · Максимальный угол наклона пучка: 10° · Увеличение: 50-1500000 крат · Диапазон углов наклона образца: ±20° · Перемещение образца по осям X , Y : 2 мм