Микроспектрофотометр с InGaAs-детектором MSV-5200 (JASCO)
14 сентября 2018
255
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Томская область, Томск |
| Страна производства | Япония |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
Описание
Прибор позволяет проводить измерения ширины запрещенной зоны и толщины пленок полупроводников, регистрировать спектры отражения/пропускания, а также оценивать оптические характеристики функциональных кристаллов и проводить анализ цвета микроскопических объектов. Оснащен PbS-детектором с Пельтье-охлаждением и способен регистрировать спектры в диапазоне длин волн 200 - 2700 нм с точностью ±0.3 нм.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Компактный вакуумный УФ-спектрометр скользящего падения GIS-2 (РнД-Эксметр) с П3С детектором | РФ | Аренда, Заказ исследования | Томск |
| ИК-Фурье спектрометр FT/IR-6200 (Jasco) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Тамбов |
| ИК-Фурье спектрометр FT/IR-4100 (Jasco) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Москва |