Растровый электронный микроскоп Quanta 200 (FEI)
14 сентября 2018
404
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 7 800 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Микроскоп имеет двухступенчатую систему откачки (безмаслянный турбомолекулярный и форвакуумный насосы). Вакуумная система микроскопа имеет три режима: высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM (естественная среда). В первом режиме камера образца откачивается до давления ниже 10-4 Торр (предельное наблюдаемое значение 5*10‑6 Торр). Для исследования заряжающихся объектов можно использовать режимы низкого вакуума и ESEM. При работе в данных режимах в колонне поддерживается высокий вакуум, а в камере объектов давление можно изменять в пределах от 0.1 до 30 Торр (от 13 до 4000 Па) путем введения в камеру водяного пара из резервуара через специальный впускной патрубок.
