| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Микроскоп обеспечивает возможность легкого наблюдения непроводящих материалов без предварительной обработки. Элементный анализ EDS полностью интегрирован в программу управления микроскопом. Когда установлены моторизированный предметный столик (опция) и навигационная система образца (stage navigation system) (опция), можно найти интересующую область по оптическому изображению образца. Установка направляющей EDS гарантирует, что анализ может быть проведен без нерешительности (LA только).