Тестер микросхем FORMULA HF3-512 (FORM)
14 сентября 2018
595
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначен для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 256/512 и частотой функционирования до 200 МГц. Обеспечивает испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая: испытания и исследования вновь разработанных типов микросхем. Производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные, Сертификационные испытания, Входной контроль.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Широкополосный тестер APC Wide-Range d33 | США | Аренда, Заказ исследования | Ростов-на-Дону |
| Тестер вибрации портативный многофункциональный типа TV 300, 1-10 | Китай | Аренда, Заказ исследования | Кострома |
| Комплекс измерительный параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-219 | Белорусь (РБ) | Аренда, Заказ исследования | Москва |