Микроскоп просвечивающий электронный JEM-2100 (JEOL)
14 сентября 2018
502
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для проведения электронно-микроскопических исследований по изучению тонкой структуры материалов, включая дислокационную, зеренную, субзеренную; фазового состава, химического состава отдельных фаз и их кристаллографической ориентации друг относительно друга; изучение морфологических особенностей и химического состава выделений вторых фаз, вплоть до наноразмерного уровня.