Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп JSPM-4500 (Jeol)

Предназначен для исследования поверхностей с высоким разрешением. Этот прибор может использоваться и как отдельный прибор для лаборатории, имеющей свою сверхвысоковакуумную многокамерную систему, и как основа для создания интегрированной лаборатории для исследования поверхности. Прибор в полной комплектации включает как вакуумную камеру для пробоподготовки и осуществления различных воздействий на образец, так и камеру для наблюдения. К системе могут быть добавлены дополнительные камеры для подготовки образцов и анализа поверхности. Возможно наблюдение поверхности в режимах сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии (СТМ и АСМ соответственно). Поставляются опции для исследования образцов при температурах от 20 К до 1 500 К. В число СТМ-режимов входят CITS, I-V, S-V, и I-S. Стандартный АСМ включает контактную микроскопию, микроскопию сил трения, изображение в токах, бесконтактную и дискретную контактную микроскопию с частотным детектированием, и фазовое изображение. В камеру анализа поверхности дополнительно могут быть установлены системы РФЭС и ДМЭ (дифракции медленных электронов); также вся вакуумная система может быть соединена с камерой молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ или MBE) для исследования чистых атомных поверхностей без их экспозиции на воздухе.