Анализатор размеров частиц "Нанорефлекс CLSM"

7 ноября 2018
830
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства РФ
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.

Описание

Позволяет определять количество, положение и размеры частиц, царапин, матовости поверхности (HAZE) и иных светорассеивающих дефектов на поверхности полупроводниковых пластин, структур кремний-на-сапфире (КНС) и пластин сапфира. Сканирование осуществляется по спирали за счет перемещения оптической головки по дуге окружности относительно вращающейся пластины. Анализаторы частиц подключаются к внешнему компьютеру через USB порт без помощи дополнительной аппаратуры. Программное обеспечение приборов работает c операционной системой Windows 10.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Измерительный комплекс для Ti:S фемтосекундной лазерной системы (анализатор спектра, измеритель мощности, визуализатор излучения) (COHERENT) США Аренда, Заказ исследования Москва
Оптический анализатор AXIO SCOPE A1 РФ Аренда, Заказ исследования Москва