Атомно-силовой микроскоп для образцов до 200 мм. ВЕГА (НТ-МДТ, NT-MDT).
13 декабря 2018
434
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | РФ |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Описание
Предельное качество отображения обеспечивается использованием встроенной акусто- и виброизоляции, термостабилизации, лучшей в индустрии чувствительностью оптической системы регистрации и уникальной конструкцией системы сканирования зондом, позволяющей достигать атомного разрешения в рутинных измерениях. В базовой конфигурации доступны 50 АСМ методик, включая метод HybriD, что позволяет проводить все ультрасовременные наномеханические, электрические и магнитные исследования. Интеллектуальный алгоритм ScanTronic для оптимизации одним кликом мыши параметров сканирования, позволяющий проводить совершенные измерения рельефа с использованием амплитудно-модуляционного метода независимо от опыта оператора. Автоматизированное исследование множественных образцов с использованием простого пользовательского интерфейса для создания сценария поточечного сканирования и базы данных для храненных полученных изображений. Контроль образцов с размерами до 200 X 200 мм и толщиной до 40 мм в любой точке поверхности с точностью позиционирования 1 мкм. #СЗМ, #АСМ, #сканирующий зондовый микроскоп, #атомно-силовой микроскоп.